據(jù)悉，目前在LED器件或燈具設(shè)計過程中，一般采用兩種模型對光源進(jìn)行模擬，即“光源遠(yuǎn)場模型”和“光源近場模型”。

　　而傳統(tǒng)方法多以LED光源的遠(yuǎn)場測試數(shù)據(jù)為設(shè)計依據(jù)，將光源看作一個各向同性的點(diǎn)光源，僅僅是針對LED光源相對粗糙的測量，并不能精確地描述光源的空間光分布情況，容易導(dǎo)致LED產(chǎn)品的色度和亮度不均勻、光源整體效率低等問題，LED光線集的獲取已成為LED光學(xué)設(shè)計的瓶頸問題。

　　因此，獲取并合理利用精確、詳實(shí)的LED光源信息，尤其是光源空間光分布信息是LED光學(xué)設(shè)計的關(guān)鍵點(diǎn)。

　　相比遠(yuǎn)場測試，光源近場模型則是將光源看作一個復(fù)雜的面光源來研究其實(shí)際發(fā)光情況。因此，通過對LED光源進(jìn)行近場測試，可以獲得包含光線數(shù)量、光線的角度范圍、總光通量和光線起點(diǎn)等詳細(xì)光源信息的光線集文件。近場測試獲得的LED光源光線集的應(yīng)用可以有效提高LED光學(xué)設(shè)計的質(zhì)量和效率。